To detect the surface and sub-surface defects by using the electromagnetic field

• သံလိုက်နိုင်သောအရာ များ၏ Surface နှင့် Sub-surface Defect များကိုတိုင်းနိုင်သည်။
• သံလိုက်နိုင်သောအရာများကို Magnetise သံလိုက်ပြုလုပ် လိုက်သောအခါ flux စက်ကွင်းများဖြစ်ပေါ်လာသည်။
• Defect or discontinuity ရှိပါက Magnetic field leakage (distort) ဖြစ်ပေါ်ကာ ဖြန်းပေးထားသော သံမှုန်များကို ဆွဲစုပုံ စေခြင်းဖြင့် မြင်ရစေသည်။